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FIB-SEM-Ar“三束“系统
FIB-SEM-Ar“三束“系统FIB-SEM-Ar“三束“系统/日立最新双束FIB系统 NX2000(图1)可以通过对已经加工好的样品再用Ar+离子束进行加工,达到更好的加工效果 。
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
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蔡司 Crossbeam 340 和 Crossbeam 540专用于纳米断层成像和纳米加工的 FIB-SEM 系统
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来源:蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司 资料
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TEM 制样:FIB制样的优势和缺陷
来源:复纳科学仪器(上海)有限公司 相关产品:Gentle Mill离子减薄仪/离子精修仪 应用
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蔡司双束电镜 Crossbeam系列350/550
蔡司双束电镜 Crossbeam系列350/550 FIB-SEM
来源:卡尔蔡司(上海)管理有限公司 资料
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使用离子束制备SEM样品:徕卡EM TIC 3X三离子束研磨仪
来源:徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 相关产品:德国徕卡离子研磨仪 EM TIC 3X 资料
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Apreo 2 SEM场发射扫描电子显微镜
来源:赛默飞电子显微镜(原FEI) 资料
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扫描电镜(SEM)是如何检测样品信息的
来源:复纳科学仪器(上海)有限公司 应用
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聚焦离子束系统原理
来源:日立高新技术公司 资料
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蔡司 GeminiSEM 系列样本
蔡司 GeminiSEM 系列样本 用于任意样品进行高衬度和低电压成像的场发射扫描电子显微镜
来源:卡尔蔡司(上海)管理有限公司 资料
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FB2200聚焦离子束系统
来源:日立高新技术公司 资料
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